物鏡VMU-H 鏡頭日本三豐Mitutoyo顯微鏡
簡要描述：
物鏡VMU-H 鏡頭日本三豐Mitutoyo顯微鏡 小型且輕量的照相機(jī)觀察用顯微鏡378-505 378-506金屬、樹脂、印刷面、微小的?適用于YAG激光器（近紅外、可見、近紫外線、紫外線）的微細(xì)加工※1半導(dǎo)體電路的切割、修剪、修正、標(biāo)記、薄膜（絕緣膜）的去除、加工、液晶濾色器等修復(fù)（缺陷修正）等。?支持紅外光學(xué)系統(tǒng)※2硅系的內(nèi)部觀察、紅外線的光譜特性分析等。
產(chǎn)品型號：378-506
產(chǎn)品時(shí)間：2024-05-22
打印當(dāng)前頁物鏡VMU-H 鏡頭日本三豐Mitutoyo顯微鏡
VMU
378 系列 — 視頻顯微鏡系統(tǒng)
• 緊湊輕量型顯微鏡，相機(jī)觀察用型。適于
檢測金屬表面、半導(dǎo)體、液晶面板、樹脂等。
• 多種鏡體通常用作適用于專業(yè)器械的OEM
(原廠委制) 產(chǎn)品，如那些利用YAG (近紅外、
可見、近紫外或紫外) 激光* 對半導(dǎo)體晶片
進(jìn)行檢測和修補(bǔ)的設(shè)備。
* 不保證激光系統(tǒng)產(chǎn)品的性能和安全性。
應(yīng)用：切割、修整、校正、 給半導(dǎo)體電路做
標(biāo)記/ 薄膜(絕緣膜) 清潔與加工、液晶彩色
濾光器的修復(fù) (校正錯(cuò)誤)。還可用作光學(xué)觀
察剖面圖以便探頭分析半導(dǎo)體故障。
• 對于VMU-LB 和 VMU-LB， 顯微鏡主件的剛度
和總體性能與之前的型號相比已有所提高。
• 應(yīng)用*: 晶體硅的內(nèi)部觀察、紅外光譜特征
分析等。
* 需要紅外光源和紅外攝像機(jī)。
• 配有孔徑光闌的遠(yuǎn)心光學(xué)系統(tǒng)是表面照明
光學(xué)系統(tǒng)上的標(biāo)準(zhǔn)配件。適于需要均勻
照明的圖像處理?？捎糜诔叽鐪y量、形狀
檢驗(yàn)、定位等。
• 設(shè)計(jì)和制造均能滿足您的需求，如雙攝影
機(jī)架、雙(低/ 高) 放大率觀察。
物鏡VMU-H 鏡頭日本三豐Mitutoyo顯微鏡
| 378-826-5 | 100倍 | 0.50 | 12.0毫米 | -- |
| 378-827-5 | 20倍/t1.1 | 0.42 | 19.98毫米 | -- |
| 378-828-5 | 50倍/t1.1 | 0.42 | 17.13毫米 | -- |
| 378-829-5 | 50倍/噸0.7 | 0.42 | 17.26毫米 | -- |
| 378-831-7 | 2倍 | 0.055 | 34.0毫米 | -- |
| 378-832-7 | 5倍 | 0.14 | 34.0毫米 | -- |
| 378-833-7 | 10倍 | 0.28 | 33.5毫米 | -- |
| 378-834-7 | 20倍 | 0.42 | 20.0毫米 | -- |
| 378-835-7 | 50倍 | 0.55 | 13.0毫米 | -- |
| 378-836-7 | 100倍 | 0.70 | 6.0毫米 | -- |